Ciri Ciri Kerusakan'Lemah UFS Universall Flash Storage Pada Smartphone Android

Ketua_Teknisi    February 08, 2025    Tips , Tutorial    Comment   

Ketua Teknisi HP (Official) Support File Dump eMMC,Csc,ENG Rom,Nvram,Qcn,ALL Firmware

UFS Universall Flash Storage

Ciri Ciri Kerusakan'Lemah UFS Universall Flash Storage Pada Smartphone Android.Beberapa tahun lalu dan pada blog ini kami sudah mejelaskan ciri-ciri kerusakan pada ic eMMC Pada Android.dan sekarang kita langsung saja pada pembahasan UFS.

Ciri-Ciri Kerusakan UFS Storage pada Smartphone: Analisis Kompleks

Kerusakan pada Universal Flash Storage (UFS) di smartphone dapat dikategorikan menjadi kerusakan fisik dan logis, dengan manifestasi gejala yang beragam. Berikut analisis mendalam berdasarkan aspek teknis:

1. Degradasi Performa yang Signifikan

Penurunan Kecepatan Transfer Data: UFS dirancang untuk kecepatan tinggi (misal: UFS 3.1 mencapai ~2.1 GB/s). Jika terjadi penurunan drastis dalam membuka aplikasi, menyalin file, atau booting, hal ini dapat mengindikasikan kesalahan pada antarmuka UFS (M-PHY atau UniPro) atau masalah manajemen wear-leveling.

Read/Write Errors: Sistem operasi mungkin mencatat error log seperti "I/O timeout" atau "CRC error" akibat kegagalan komunikasi antara pengontrol UFS dan NAND flash. Kesalahan ini sering terkait dengan konektor yang rusak atau degradasi sel NAND.

2. Gagal Booting atau Boot Loop

Kegagalan Inisialisasi Pengontrol UFS: Jika pengontrol UFS tidak dapat memuat firmware atau membaca partisi sistem (misal: /boot atau /system), perangkat mungkin terjebak dalam boot loop atau menampilkan pesan seperti "No OS found".

Kerusakan Partisi Kritis: Bad block pada area partisi bootloader atau metadata UFS (misal: LU (Logical Unit) 0) dapat menyebabkan kegagalan proses boot.

3. Korupsi Data dan File System

File Tidak Terbaca/Terkorupsi: Kerusakan sel NAND atau kesalahan ECC (Error-Correcting Code) dapat menyebabkan data terdistorsi. Contoh: Foto/gambar rusak, aplikasi crash saat mengakses cache.

File System Errors: OS mungkin mendeteksi inconsistency pada struktur file system (misal: ext4 atau f2fs) dan memunculkan pesan seperti "File system corrupted". Hal ini bisa disebabkan oleh unsafe shutdown yang merusak journaling file system atau bad block yang tidak tertangani oleh pengontrol.

4. Storage Tidak Terdeteksi

Kerusakan pada Antarmuka Hardware: Konektor UFS yang longgar (akibat benturan) atau kerusakan pada jalur PCB (misal: broken trace) dapat menyebabkan perangkat gagal mengenali storage. Gejala: Pesan "Storage not mounted" atau kegagalan akses di recovery mode (e.g., TWRP).

Pengontrol UFS Mati: Kegagalan daya (VCCQ/VCC) ke pengontrol UFS atau IC power management yang rusak dapat membuat chip UFS tidak merespons

5. Bad Block dan Wear-Out NAND

Peningkatan Bad Block: Meski UFS memiliki mekanisme remapping bad block, kelebihan bad block (karena usia atau write cycle berlebihan) dapat mengurangi kapasitas efektif. Gejala: Aplikasi tiba-tiba tertutup saat mengakses file tertentu atau error "Storage full" padahal kapasitas tersisa.

Wear-Leveling Gagal: Jika algoritma wear-leveling tidak bekerja optimal, sel NAND tertentu akan mengalami wear-out cepat, memperparah korupsi data.

6. Overheating Abnormal

Panas Berlebih pada Area Storage: Chip UFS yang rusak mungkin menyebabkan konsumsi daya tinggi, terdeteksi melalui sensor termal di dekat lokasi penyimpanan. Overheating dapat mempercepat degradasi sel NAND

7. Kegagalan Firmware dan Pembaruan

Corrupted Firmware UFS: Pembaruan OTA yang gagal atau interupsi selama flashing dapat merusak firmware pengontrol UFS, menyebabkan storage tidak terinisialisasi. Gejala: Perangkat masuk ke mode EDl (Emergency Download) tanpa pemicu.

Authentication Fail: Pada perangkat dengan enkripsi hardware (seperti FBE), kerusakan UFS dapat menyebabkan kegagalan dekripsi karena pengontrol tidak dapat memproses kunci yang disimpan di RPMB (Replay Protected Memory Block).

8. Tanda pada Diagnostic Tools

SMART Attributes: Beberapa OEM menyediakan akses ke data SMART UFS melalui kode diagnosa (misal: ##4636##), yang menampilkan parameter seperti:

#Program Fail Count: Jumlah kegagalan menulis.

#Erase Fail Count: Kegagalan menghapus blok.

#UFS Life Time Estimate: Persentase kesehatan storage.

Kernel Log (dmesg): Error seperti ufs-qcom 1d84000.ufs: UIC command error mengindikasikan masalah komunikasi di lapisan transport UFS.

Faktor Penyebab Kerusakan

Fisik:

Benturan/Tekanan: Retak pada chip UFS (dalam paket BGA) atau solder ball.

Eksposur Suhu Ekstrem: Thermal stress mempercepat degradasi sel NAND.

Logis:

Firmware Corruption: Bug pada pembaruan pengontrol UFS.

Voltage Spike: Ketidakstabilan daya merusak sirkuit pengontrol.

Diagnosis dan Mitigasi

Software: Gunakan tool seperti fsck untuk memeriksa file system atau aplikasi diagnosa OEM.

Hardware: Inspeksi visual dengan mikroskop untuk deteksi cold joint atau kerusakan PCB. Penggunaan JTAG mungkin diperlukan untuk membaca log pengontrol UFS.

Data Recovery: Sulit dilakukan karena enkripsi hardware dan arsitektur UFS yang terintegrasi. Seringkali memerlukan penggantian chip UFS dan restorasi dari cloud.

Kesimpulan: 

Kerusakan UFS bersifat kompleks karena melibatkan interaksi antara hardware (sel NAND, pengontrol, antarmuka) dan firmware. Diagnosa memerlukan pendekatan multidisiplin, sementara perbaikan seringkali tidak ekonomis kecuali oleh layanan khusus dengan alat advanced seperti reballing station atau chip programmer.

Baca Juga